Vol.39はXPSの定量分析法の解説です。
XPSでの定量分析はどの様なパラメータを用いて実施するのかを解説しています。
ニュースレターVol.37は走査電子顕微鏡（FE-SEM）によるゼオライトの観察例です。
ゼオライト観察時の参考にしてみて下さい。
また、FE-SEMの観察時のご相談などありましたら、スコップ担当者までご連絡お願い致します。
皆様のご利用お待ちしています。
スコップNews Letter Vol.36はXPS装置搭載Arイオン銃による深さ方向分析時の深さ分解能の測定結果です。深さ分解能はイオンスパッタエッチングで測定される深さ方向プロファイルの界面を正確に求める際に重要となるファクターです。搭載Arイオン銃はスパッタエッチング時の材料表面の荒れが少なく、均一にエッチングすることから、界面情報を正確に求めることができます。
スコップNews Letter Vol.35はXPS装置搭載Arイオン銃の紹介です。搭載Arイオン銃は数10nm～数100nm以上までの深さ方向分析を可能とするイオン銃です。
XPSにて深さ方向分析を実施したい方はご連絡お願い致します。