スコップNews Letter Vol.36はXPS装置搭載Arイオン銃による深さ方向分析時の深さ分解能の測定結果です。深さ分解能はイオンスパッタエッチングで測定される深さ方向プロファイルの界面を正確に求める際に重要となるファクターです。搭載Arイオン銃はスパッタエッチング時の材料表面の荒れが少なく、均一にエッチングすることから、界面情報を正確に求めることができます。
スコップNews Letter Vol.35はXPS装置搭載Arイオン銃の紹介です。搭載Arイオン銃は数10nm～数100nm以上までの深さ方向分析を可能とするイオン銃です。
XPSにて深さ方向分析を実施したい方はご連絡お願い致します。
スコップNews Letter Vol.34は9月27日に開催しました第1回CLEM法ワークショップの報告と、山梨大学医学部でのスコップ関係者の研修報告です。
今後ともスコップへのご支援、よろしくお願い致します。
スコップNEWS LETTER Vol.33は9月4日～6日に幕張メッセで開催されましたJASIS2024への出展報告等です。
多くの方々に本学ブースにお立ち寄り頂き、感謝申し上げます。
今後ともご支援よろしくお願い致します。
スコップNEWS LETTER Vol.32はXPSによる薄膜の厚さ計算法および電子分光シミュレーターの紹介です。
材料の表面状態解析に関して気軽にご相談下さい。